FTD提供高可靠性的MEMS测试接口解决方案。插座具有良好机械稳定性和电气稳定性。它适应于加速度计、陀螺仪、RF振荡器,射频开关和麦克风应用方面的MEMS.产品有很长的寿命且易于维护。

●  FTD优化的设计，提供最优的测试性能

●  多种微机电传感器应用（压力、磁力、 CMOS等）

●  0.3mm 引脚间距，16 sites 同时测试

●  优化的定位框设计提供高精度的定位功能

●  出色的接触电阻和电流承受能力

●  三温测试能力（-40°C-150°C）

●  球阵列封装s: BGA, LGA, WLCSP,others – 350 µm pitch and up

●  引脚类封装: QFP, SO, others –350 µm pitch and up

●  无引脚封装: QFN, others – 350 µm pitch and up

●  产品引脚间距： 0.3mm 及以上                       

●  探针弹力： 15g -40g                  

●  测试行程：0.3mm -0.65mm

●  探针使用寿命：500K        

●  测试插座使用寿命： >5KK                

●  清洁频率：50K-100K

●  socket材料：Vespel SP-1, Plavis – N, MDS-100, and Peek ceramic

●  弹簧探针头材料：合金  金

●  弹簧材料： 弹簧钢

●  接触电阻：50mΩ

●  电流承载能力：2.5A 持续电流

●  频宽： > 30GHZ @-1db

●  电感： 1.0nH

●  温度范围： -55°C - 150°C